1561-5405 10.24151/1561-5405 Proceedings of Universities. Electronics Scientifical and technical journal "Proceedings of Universities. Electronics" Научно-технический журнал «Известия высших учебных заведений. Электроника» 1561-5405 2587-9960 National Research University of Electronic Technology Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники" 004.056.55Информационные технологииStudy on Characteristics of SRAM Based Physical Unclonable FunctionsИсследование физически неклонируемых функций на основе статической памяти6166http://ivuz-e.ru/en/issues/1-_2016/issledovanie_fizicheski_nekloniruemykh_funktsiy_na_osnove_staticheskoy_pamyati/http://ivuz-e.ru/en/download/1_2016_1763_en.pdf

The construction of the SRAM based physical unclonable functions, implemented with 0.18 μm CMOS process, have been studied. The possibility of using the unique sequences of physical unclonable functions as the cryptographic keys has been shown.

Рассмотрена конструкция физически неклонируемой функции на основе статической памяти. Исследованы характеристики физически неклонируемых функций, изготовленных в 0,18-мкм КМОП-процессе. Показана возможность использования физически неклонируемых функций для генерации ключей систем шифрования.

 Skorobogatov S. Optical surveillance on silicon chips: your crypto keys are visible. – URL: http://www.cl.cam.ac.uk/~sps32/SG_talk_OSSC_a.pdf (дата обращения: 15 мая 2015 г.)Красников Г.Я. Конструктивно-технологические особенности субмикронных МОП-транзисторов. – Изд. 2-е, испр. – М.: Техносфера, 2011.Suh G.E., Srinivas Devadas. Physical unclonable functions for device authentication and secret key generation // Design Automation Conference. IEEE. – 2007. – P. 9–14.The butterfly PUF: Protecting IP on every FPGA / S.S. Kumar, J. Guajardo, R. Maes et al. // IEEE International Workshop on Hardware-Oriented Security and Trust. – 2008. – P. 67–70.Guajardo J., Kumar S.S., Schrijen G.J., Tuyls P. Brand and ip protection with physical unclonable functions // IEEE International Symposium on Circuits and Systems. – 2008. – P. 3186–3189.