<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns:ali="http://www.niso.org/schemas/ali/1.0/" article-type="research-article" dtd-version="1.2" xml:lang="en">
  <front>
    <journal-meta>
      <journal-id journal-id-type="issn">1561-5405</journal-id>
	    <journal-id journal-id-type="doi">10.24151/1561-5405</journal-id>	  
      <journal-id journal-id-type="publisher-id">Proceedings of Universities. Electronics</journal-id>
      <journal-title-group>
        <journal-title xml:lang="en">Scientifical and technical journal "Proceedings of Universities. Electronics"</journal-title>
        <trans-title-group xml:lang="ru">
          <trans-title>Научно-технический журнал «Известия высших учебных заведений. Электроника»</trans-title>
        </trans-title-group>        
      </journal-title-group>      
      <issn publication-format="print">1561-5405</issn>
      <issn publication-format="online">2587-9960</issn>
      <publisher>
        <publisher-name xml:lang="en">National Research University of Electronic Technology</publisher-name>
        <publisher-name xml:lang="ru">Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники"</publisher-name>
      </publisher>
    </journal-meta>
    <article-meta>                                    
      
    <article-id pub-id-type="udk">[004.424:681.327.33]:001.891.57</article-id><article-categories/><title-group><article-title xml:lang="en">Method and Means for AC Parameters of High Speed ADC Debugging</article-title><trans-title-group xml:lang="ru"><trans-title>Методы и средства отладки динамических параметров быстродействующих АЦП</trans-title></trans-title-group></title-group><fpage>25</fpage><lpage>33</lpage><self-uri>http://ivuz-e.ru/en/issues/1-_2013/metody_i_sredstva_otladki_dinamicheskikh_parametrov_bystrodeystvuyushchikh_atsp/</self-uri><abstract xml:lang="en"><p>The analysis of the factors affecting the AC performance of the ADC and the used simulation modes has been presented. The methods for evaluation of the dynamic parameters of the 12-bit ADC being designed on the 180 nm technology have been suggested.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="ru"><p>Проведен анализ факторов, влияющих на динамические параметры АЦП и программных средств, используемых для их моделирования. Предложены методы оценки динамических параметров при проектировании быстродействующих АЦП.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd/></kwd-group><funding-group/></article-meta>
  </front>
  <body/>
  <back>
    <ref-list/>    
  </back>
</article>
